在電子技術誕生之前，主要的液位檢測方法是以機械力學為基礎的。微電子技術的發展大大促進了傳感技術的發展，因而產生了許多新的液位檢測方法及儀表。在這些儀表中，雷達液位計是基于時間行程法產生的。所以，我們有必要認識一下雷達液位計原理中(zhong)的幾個(ge)小知識點。

雷(lei)達(da)(da)液(ye)(ye)位計(ji)通過發(fa)(fa)射和接(jie)(jie)(jie)收微波脈沖，進行液(ye)(ye)位測量。從這一點來看，雷(lei)達(da)(da)液(ye)(ye)位計(ji)有(you)兩個主(zhu)要設(she)備(bei)(元件)，即發(fa)(fa)射機(ji)和接(jie)(jie)(jie)收機(ji)。發(fa)(fa)射機(ji)發(fa)(fa)射微波脈沖，經天線(xian)向下傳輸(shu)，微波接(jie)(jie)(jie)觸到液(ye)(ye)體界(jie)面，發(fa)(fa)生反射，反射后(hou)的微波經天線(xian)傳輸(shu)，最終被(bei)接(jie)(jie)(jie)收器捕(bu)獲。實際上除了這兩個主(zhu)要設(she)備(bei)，雷(lei)達(da)(da)液(ye)(ye)位計(ji)的設(she)備(bei)還有(you)發(fa)(fa)射天線(xian)、接(jie)(jie)(jie)收天線(xian)、處理部(bu)分、顯示器，等等。

說完了雷達(da)(da)液位計的(de)設(she)備，不(bu)妨再認(ren)識一下影響雷達(da)(da)液位計測量效果的(de)幾個要素。

想要認識這些要素(su)，就要先知道與(yu)雷達液(ye)位(wei)計有(you)關的(de)幾個(ge)公(gong)式(shi)。雷達液(ye)位(wei)計液(ye)位(wei)測(ce)量(liang)公(gong)式(shi)：L(液(ye)位(wei))=E-C(光速(su)(su)(su))×T/2。在這個(ge)公(gong)式(shi)中(zhong)，有(you)一(yi)個(ge)很重要的(de)因素(su)，即(ji)光速(su)(su)(su)。光速(su)(su)(su)不受(shou)大氣環境因素(su)影(ying)響，因此電磁波(bo)在空氣中(zhong)的(de)傳(chuan)播速(su)(su)(su)度不受(shou)電磁波(bo)頻率(lv)、溫度以及大氣壓(ya)力影(ying)響。光速(su)(su)(su)公(gong)式(shi)：光速(su)(su)(su)=頻率(lv)×波(bo)長(chang)，微波(bo)的(de)頻率(lv)不同(tong)，波(bo)長(chang)也不同(tong)。天(tian)線增益公(gong)式(shi)即(ji)天(tian)線在特(te)定方向上輻射的(de)立(li)(li)體(ti)角度的(de)能(neng)量(liang)與(yu)天(tian)線在所(suo)有(you)方向上輻射的(de)立(li)(li)體(ti)角度的(de)能(neng)量(liang)的(de)比(bi)率(lv)。

從這些公式中，可以看出，雷(lei)達(da)液(ye)位計(ji)測量效果如何與(yu)天線(xian)的增(zeng)益(yi)有直接(jie)關系，而天線(xian)的增(zeng)益(yi)又與(yu)頻(pin)(pin)率(lv)有密(mi)切的聯系。在其它(ta)條件一定的前提下，高(gao)(gao)頻(pin)(pin)率(lv)雷(lei)達(da)液(ye)位計(ji)與(yu)低頻(pin)(pin)率(lv)雷(lei)達(da)液(ye)位計(ji)相比，頻(pin)(pin)率(lv)越高(gao)(gao)，天線(xian)增(zeng)益(yi)越大，能量越集中。

雷(lei)達液位計只(zhi)是一(yi)個(ge)小(xiao)(xiao)小(xiao)(xiao)的(de)測量(liang)儀(yi)表，但是它的(de)作用卻不容小(xiao)(xiao)覷，所以我們有意必(bi)要(yao)多了解一(yi)下它的(de)相關(guan)知識(shi)。