雷達物位計目前已經成為市場上的主流產品，主要分為天線式雷達物位計和導波式(shi)雷達物位(wei)計，小編今天說說它們(men)兩者之間的區別。

導(dao)波(bo)式雷達物(wu)(wu)位計屬于(yu)接觸式物(wu)(wu)位計， 即罐( 倉)物(wu)(wu)位有多高， 導(dao)波(bo)鋼纜的長度也有多長， 在罐( 倉)內安裝固定有問題， 而且鋼纜受到的拉力很大， 很容易造成鋼纜拉斷的事故， 使(shi)系統發生故障和(he)停(ting)車(che)，所以，在粉體物(wu)(wu)位測量(liang)時一般不選(xuan)用導(dao)波(bo)式雷達物(wu)(wu)位計。

最常見的用于測量散裝固體物位的接觸技術包括： 重錘探測( YO-YO)， 導波雷達( TDR) 或電容，接觸式物位儀表通常容易發生以下情況： 掛料( 無報警，錯誤報警或開關點變化);波動( 有時需要穩定程序);電纜破損( 低于指定的電纜拉伸強度);頂部塌陷( 高于指定的電纜拉伸強度);機械磨損( YO-YO 使用馬達驅動和限位開關);磨損 ( 電極或電纜磨損， 特別是接觸表面 );介質的變化( 電容用于低介電常數時)

非接觸式(shi)(shi)技(ji)術(shu)可以(yi)克服以(yi)上(shang)提(ti)到的問題， 提(ti)供了更簡單的操作和安裝， 無需特(te)殊的物理配置來配合測量范圍。但在下列場合， 非接觸式(shi)(shi)天線式(shi)(shi)的雷達物位計(ji)不能很好(hao)的應用， 而接觸式(shi)(shi)導波雷達可以(yi)良好(hao)的應用：

1、在被(bei)測物料(liao)介(jie)電率(lv)較低(di)

2、在較狹小的(de)空間測量，或罐內結構復雜(za)，導致回波復雜(za)， 難(nan)以(yi)辨認(ren)的(de)場合

3、有很(hen)低介電率的(de)粉(fen)狀固態物位測量

4、高溫、 高壓工況(kuang)( 液體)

5、液(ye)—液(ye)界面測量

總體從(cong)優點上來說，接(jie)(jie)觸式(shi)避(bi)免了障礙(ai)物，可(ke)以(yi)測量介電常數小(xiao)的物料。非接(jie)(jie)觸式(shi)很(hen)少或沒(mei)有粘附(fu)，也沒(mei)有移(yi)動部件，并且(qie)污(wu)染風(feng)險小(xiao)，安裝(zhuang)簡單，很(hen)少或不(bu)需要(yao)維修。

缺點上來說(shuo)接觸式介質粘附，有(you)電纜磨(mo)(mo)損問(wen)題(ti)，頂部塌陷問(wen)題(ti)，移動部件磨(mo)(mo)損，容易腐蝕，還容易受(shou)介質變化的影響。非接觸式則是(shi)波(bo)束較寬。

各位讀到這里(li)應該了解了二者的區(qu)別，想必心中肯定(ding)對于(yu)選(xuan)擇哪種雷(lei)達(da)物位計(ji)有了判斷。