大多數人能分清高頻雷達物位計和低頻雷達物位計，但是說到高頻雷達物位計和調頻雷達物(wu)位計是否一(yi)樣(yang)這個問題(ti)時，就丈二和(he)尚摸不到(dao)頭腦(nao)了(le)，那么今天(tian)小編就來答疑解惑，以我司的26G高頻雷(lei)達物(wu)位計和(he)80G調頻雷(lei)達物(wu)位計為例說明。

一般來說雷達物位計的高頻、低頻、調頻是指雷達物位計的頻率，這里有一個誤區，很多用戶認為雷達物位計的精度是由頻率決定的，其實并不是，它受回波處理算法以及信號發射接收方式影響。以我司26G高頻雷達物位計為例，它的原理是雷達物位天線發射較窄的微波脈沖，經天線向下傳輸。微波接觸到被測介質表面后被反射回來再次被天線系統接收，將信號傳輸給電子線路部分自動轉換成物位信號。它的優點有，采用非接觸雷達，無磨損，無污染;天線尺寸小，便于安裝;波長更短，對在傾斜的固體表面有更好的反射;測量盲區更小，對于小罐測量也會取得良好的效果;幾乎不受腐蝕、輕微泡沫影響;幾(ji)乎不受大氣中(zhong)水蒸(zheng)氣、溫度(du)和壓力變化影響;嚴重粉塵環境不會影響電磁波(bo)工作(zuo)，高信(xin)噪比，即使在波(bo)動(dong)的(de)情況下也能獲(huo)得更優的(de)性能;波(bo)速聚集效(xiao)果極(ji)佳，配合多種類(lei)型天線，可以滿足90%的(de)工況場(chang)合。

而我們的80G調頻雷達物位計的測量原理是，調頻連續波雷達物位計的通用原理為雷達在罐頂發射電磁波，電磁波碰到介質反射后被雷達接收，接收信號與發射信號之間的頻率差δf與介質表面的距離R成一定比例關系：R=C(速度)*δf(頻率差)/2/K(調頻斜率)。因為光速C和調頻斜率K已知，因此估算出頻率差δf，便可得到雷達安裝位置料面的距離R，再通過已知的罐體總高，減去雷達到料面的空間距離(簡稱空高)，得出料位的高度。它的優點是采用毫米波雷達，測量精度最高可達±2mm，測量最小盲區為0.1m;天線尺寸小，滿足了多種工況場合測量;多種透鏡天線，發射角小，能量集中，回波信號強，同等工礦條件下，相比于其他雷達產品可靠性高;擁有更強的穿透性，在有粘附及凝結的情況下也可以正常使用;動態信號范圍更大，對于低介電常數介質的測量(liang)更加穩定;多種(zhong)測量(liang)模式，快速測量(liang)模式下(xia)雷(lei)達(da)反(fan)應(ying)時間(jian)小(xiao)于1S。

通過上(shang)述的(de)(de)簡單介(jie)紹，用戶們(men)肯(ken)定發現(xian)了80G雷達物位計似乎優勢相比于26G雷達物位計要(yao)大(da)的(de)(de)多(duo)，但是(shi)其實(shi)在實(shi)際工況(kuang)測量中(zhong)，26G雷達物位計能測的(de)(de)，80G雷達物位計不一定合適，過去我(wo)們(men)也有相關案(an)例。在選(xuan)擇時，我(wo)們(men)要(yao)選(xuan)合適自己的(de)(de)，而(er)不是(shi)看哪款產品優點(dian)多(duo)，就盲目選(xuan)擇。