除此之外(wai)，高(gao)頻雷達物位計測(ce)(ce)量方式(shi)采用是(shi)非接(jie)觸式(shi)測(ce)(ce)量，可以不被(bei)測(ce)(ce)量介質的(de)物理、化(hua)學特性影響；測(ce)(ce)量范(fan)圍大，在高(gao)溫、高(gao)壓的(de)液位下同(tong)樣可以測(ce)(ce)量，對(dui)于產生的(de)虛(xu)假聲波(bo)可以調試消除。在制作天線是(shi)，采用的(de)高(gao)質量材(cai)料，確保儀(yi)器關鍵部(bu)件的(de)抗腐蝕能力。高(gao)頻雷達物位計對(dui)于測(ce)(ce)量的(de)介電(dian)常數(shu)要求及低，通常情況下，介電(dian)常數(shu)越大，反射信號越強。